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- QX-SU60干涉仪
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- ◆ 用途： 检测光学元件表面精度； 量光学元件曲率半径； 检测光学材料均匀性； ◆ 特点： 高效率*高精度； 操作简单； ◆ 可选
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- QX-SD60干涉仪
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- ◆ 用途： 检测光学元件表面精度； 量光学元件曲率半径； 检测光学材料均匀性； ◆ 特点： 高效率*高精度； 操作简单； ◆ 可选
- 2018-07-17 16:27 立即抢批
- QX-SD30干涉仪
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- ◆ 用途： 检测光学元件表面精度； 量光学元件曲率半径； 检测光学材料均匀性； ◆ 特点： 高效率*高精度； 操作简单； 结构模块
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