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QX-SU60干涉仪
◆ 用途: 检测光学元件表面精度; 量光学元件曲率半径; 检测光学材料均匀性; ◆ 特点: 高效率*高精度; 操作简单; ◆ 可选
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QX-SD60干涉仪
◆ 用途: 检测光学元件表面精度; 量光学元件曲率半径; 检测光学材料均匀性; ◆ 特点: 高效率*高精度; 操作简单; ◆ 可选
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全光谱反射率膜厚量测仪
规格(SPECIFICATION):-Spectral range : 340~1040nm-Repeatability :± 1% For SiO2 1000A/Si 30/ times(1σ) at 632.8 nm应
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