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首页»供应»光学加工 » 光学检测设备 » 干涉仪»XQ15-GⅠ激光平面干涉仪

XQ15-GⅠ激光平面干涉仪

  • ¥48000.00元/台
  • 起订量:1台
  • 可售数量:999台
  • 发布时间:2018-06-29产品供应结束倒计时:产品供应已过期

所在地:上海

企业类型:企业单位

公司地址:上海市金山区夏宁路818号联东U谷北区68栋

联系人:胡俞喆 (办公室 助理)
手机:13761096971
在线联系:   
传真:021-54352518-20
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  • 品牌:上海星庆
  • 所属分类:光学加工 » 光学检测设备 » 干涉仪
  • 面型精度:优于λ/20
  • 测量口径:6英寸
  • 干涉室尺寸:Φ480×380×285mm
  • 计量单位:台
  • 最小起订量:1台
  • 供货总量(库存):999台
  • 发货期限:自买家付款之日起3天内发货

XQ1 5-GⅠ(通用型激光平面干涉仪)
XQ1 5-GⅠ(Genelral laser Plarle lnterferometer)
特点
防震性能好、有极好的条纹锁定度、视场清晰、生产场所可用性优于市场同类产品,大容量的工作室为大批量生产企业的大镜面检测提供了方便

用途:
可广泛用于工厂的计量室、光学车间和科研院所的实验室。光学平面的平面度测量、光学平板的微小楔角测量、光学材料均匀性测量、光学薄板波前误差的测量。

特点:
防震性能好、有极好的条纹锁定度、视场清晰、生产场所可用性优于市场同类产品,大容量的工作室为大批量生产企业的大镜面检测提供了方便。

技术参数:
  1. 第一标准平面(A面),工作直径D1=Φ146mm,平面的面形偏差小于0.03μm(λ/20)
  2. 第二标准平面(B面),工作直径D2=Φ140mm,平面的面形偏差小于0.03μm(λ/20)
  3. 准直系统-----------------工作直径Φ146mm,焦距 f = 400mm
  4. 光源规格-----------------激光ZN18(He-Ne)
  5. 干涉室尺寸----------------Φ480×380×285mm

关键词:XQ15-GⅠ激光平面干涉仪,供应,光学加工,光学检测设备,干涉仪

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